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J-GLOBAL ID：200903058735450860

フーリエ分光法におけるフーリエ変換処理法

Inventor： 増谷浩二
Applicant, Patent owner： 日本電子株式会社
Agent (1)： 韮澤 弘 (外7名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992143825
Publication number (International publication number)：1993332836
Application date： Jun. 04, 1992
Publication date： Dec. 17, 1993
Summary：

【要約】【目的】 フーリエ分光法において、差スペクトルのように正負が未知のスペクトルを符号も含めて正確に測定する。【構成】 干渉計22により変調されたインターフェログラムをフーリエ変換してスペクトルを求めるフーリエ分光法において、試料Sに関する測定対象インターフェログラムFS (x)とは別に、偏光子を別に1枚用意し、この偏光子と光弾性変調器2の前の偏光子1とで光弾性変調器2を挟み、それらの偏光子の偏光面を光弾性変調器2の加圧軸に対して45°に傾けて相互に平行になるように配置して、参照インターフェログラムFR (x)を求め、この参照インターフェログラムから位相情報を算出し、その位相情報に基づいて測定対象インターフェログラム又はそのフーリエ変換を位相補正して、正しいスペクトルを求める。

Claim (excerpt)：

フーリエ分光光学系からの出射光のインターフェログラムをフーリエ変換して出射光のスペクトルを求めるフーリエ分光法におけるフーリエ変換処理法において、測定対象インターフェログラムとは別に、スペクトルの符号が正又は負と分かっている参照試料の参照インターフェログラムを求め、参照インターフェログラムから位相情報を算出し、その位相情報に基づいて測定対象インターフェログラム又はそのフーリエ変換を位相補正することを特徴とするフーリエ分光法におけるフーリエ変換処理法。