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J-GLOBAL ID：200903058759092078

屈折率測定方法及びその装置

Inventor： 川口 賢治 ,  津田 博司
Applicant, Patent owner： 京都電子工業株式会社
Agent (1)： 福井 豊明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993061575
Publication number (International publication number)：1994273328
Application date： Mar. 22, 1993
Publication date： Sep. 30, 1994
Summary：

【要約】【目的】 屈折率測定方法及びその装置に関し、短時間で試料を所定の温度に調節することができるとともに、試料温度の制御精度を高めることができ、しかも、小型にできるようにした屈折率測定方法及びその装置を提供することを目的とする。【構成】 プリズム1を用いる全反射法による屈折率測定方法において、上記プリズム1の一表面3を覆う高熱伝導性ブロック6を介して、温調素子8で試料5の温度調節を行う構成とする。

Claim (excerpt)：

プリズム(1) を用いる全反射法による屈折率測定方法において、上記プリズム(1) の少なくとも一表面を覆う高熱伝導性ブロック(6) を介して、温調素子(8) で上記プリズム(1) の上面に置かれた試料(5) の温度調節を行うことを特徴とする屈折率測定方法。

IPC (2)：

G01N 21/43 ,  G01N 21/01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭58-027044
  
• 特開平1-170838
  
• 特開平2-309235