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J-GLOBAL ID：200903058810544809

ワイヤソーの検査方法、ワイヤソーの検査装置及び切断装置

Inventor：
井手 大介

About 井手 大介

, 
峠 直樹

About 峠 直樹


Applicant, Patent owner：
株式会社ノリタケスーパーアブレーシブ

About 株式会社ノリタケスーパーアブレーシブ

, 
株式会社ノリタケカンパニーリミテド

About 株式会社ノリタケカンパニーリミテド


Agent (1)： 加藤 久
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003273934
Publication number (International publication number)：2005037221
Application date： Jul. 14, 2003
Publication date： Feb. 10, 2005
Summary：
【課題】 砥粒間隔を検出してワイヤソーの切断性能を良好に保つとともに、ワイヤソー表面の摩耗状態や偏摩耗等の異常摩耗を検出できるようにして、ワイヤソーの切味低下や断線を未然に防止して、高い加工性能を有するワイヤソーを安定して製造することを可能とするワイヤソーの検査方法及び検査装置を提供する【解決手段】 ワイヤソー1の長手方向に対して垂直な2軸方向に、CCDカメラ2が配置され、このCCDカメラ2に対向してワイヤソー1を挟んでLED光源3が配置されている。CCDカメラ2にはカメラ用電源4が接続され、LED光源3にはLED光源用電源5が接続されている。2つのカメラ用電源4にはカメラ切替器6が接続され、カメラ切替器6と2つのLED光源3は制御装置7に接続され、制御装置7は演算装置8に接続されている。演算装置8には、その周辺機器としてのディスプレイ9、キーボード10,およびマウス11が接続されている。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
芯線の周囲にボンド材によって砥粒を固着したワイヤソーの検査方法において、前記ワイヤソーを透過した光を用いて前記ワイヤソーの画像を撮影し、少なくとも前記砥粒の個数、砥粒間隔、砥粒の投影面積を検出して、前記砥粒の分布状態を検査することを特徴とするワイヤソーの検査方法。
IPC (6)：
G01N21/892 ,  B24B27/06 ,  B24B49/12 ,  B24D11/00 ,  G01B11/00 ,  G01B11/28
FI (6)：
G01N21/892 C ,  B24B27/06 H ,  B24B49/12 ,  B24D11/00 G ,  G01B11/00 H ,  G01B11/28 Z
F-Term (46)：
2F065AA03 ,  2F065AA07 ,  2F065AA20 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065GG07 ,  2F065HH13 ,  2F065HH15 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ40 ,  2F065RR07 ,  2F065UU05 ,  2G051AA07 ,  2G051AA44 ,  2G051AB02 ,  2G051BA20 ,  2G051CA04 ,  2G051CB02 ,  2G051DA06 ,  2G051EA16 ,  2G051EC02 ,  2G051ED08 ,  2G051ED22 ,  3C034BB93 ,  3C034CA09 ,  3C058AA05 ,  3C058AC02 ,  3C058DA03 ,  3C063AA08 ,  3C063AB09 ,  3C063BA16 ,  3C063EE10 ,  3C063EE31 ,  3C069AA01 ,  3C069BA06 ,  3C069BB01 ,  3C069BB04 ,  3C069CA04 ,  3C069DA01 ,  3C069DA03 ,  3C069EA03
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (4)
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