表示欠陥検査装置および表示欠陥検査方法

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：富田和子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995257830
Publication number (International publication number)：1997101236
Application date： Oct. 04, 1995
Publication date： Apr. 15, 1997
Summary：

【要約】【課題】液晶ディスプレイの点欠陥や表示むらを検出する検査装置を、より小型、かつ安価に提供する。【解決手段】本装置では、点欠陥を検出するためのカメラアレイ2と、画像むらを検出するためのカメラ3を別個に設け、カメラアレイ2の個々のカメラが検査対象1の表示画面を分担して撮像するようにしている。このため、検査対象1との距離を長くとることなしに各カメラの視野角を小さくさせることができ、また、カメラアレイ2を標準的な解像度を有する安価なカメラで構成した場合においても、十分な解像度の撮像結果を得ることができる。点欠陥を検出する画像処理部4と、表示むらを検出する画像処理部5で構成される画像処理装置7は、カメラ2,3から供給される画像データを処理することで、表示対象1の表示欠陥を検出し、その検出結果をモニタ6に表示させる。

Claim (excerpt)：

検査対象の液晶ディスプレイに表示された画像を撮像する撮像部と、当該撮像部の撮像結果に基づいて、前記検査対象の表示欠陥を検出する画像処理部と、当該画像処理部の検出結果を表示する表示部を有する表示欠陥検査装置であって、前記撮像手段は、前記検査対象の表示画面を分担して撮像する複数の第1の電子カメラと、前記表示画面の全体を撮像する第2の電子カメラを有し、前記画像処理部は、前記複数の第1の電子カメラの撮像結果に応じて、前記検査対象の点欠陥を検出する点欠陥検出部と、前記第2の電子カメラの撮像結果に応じて、前記検査対象の表示むらを検出するむら検出部とを有することを特徴とする表示欠陥検査装置。

IPC (4)：

G01M 11/00 , G01R 31/00 , G02F 1/13 101 , G06T 7/00

FI (4)：

G01M 11/00 T , G01R 31/00 , G02F 1/13 101 , G06F 15/62 400

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

周期性パターンのムラ定量化方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-018546 Applicant：大日本印刷株式会社
平面型表示パネル検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-173387 Applicant：シャープ株式会社, 株式会社エー・ディー・エス
特開昭59-128437

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