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J-GLOBAL ID：200903058867059273
磁気ディスクの異常突起検出方法及び磁気ディスク装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
薄田 利幸
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994307243
Publication number (International publication number)：1996167121
Application date： Dec. 12, 1994
Publication date： Jun. 25, 1996
Summary：
【要約】【目的】磁気ディスク装置に用いる実際の小型ヘッドと同じ感度で、磁気ディスク上の異常突起を検出する異常突起検出方法を提供すること。【構成】接触熱によって抵抗変化を生じる素子、例えばMR素子、を搭載した磁気ヘッドを磁気ディスク1上に配置し、磁気ヘッドと磁気ディスク1の相対的位置を変化させ、磁気ディスクと磁気ヘッドの上記素子との接触熱によって生ずる素子の抵抗変化分を検出し、リードアンプ6でゲインを増幅し、リード制御回路5により、予め設定したレベルにより検出するようにした磁気ディスクの異常突起検出方法。
Claim (excerpt)：
接触熱によって抵抗変化を生じる素子を搭載した磁気ヘッドを磁気ディスク上に配置し、磁気ヘッドと磁気ディスクの相対的位置を変化させ、磁気ディスクと磁気ヘッドの上記素子との接触熱によって生ずる素子の抵抗変化分を検出することを特徴とする磁気ディスクの異常突起検出方法。
IPC (3)：
G11B 5/39
, G11B 5/84
, G11B 19/04 501
