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J-GLOBAL ID：200903058870750521
注意機能の測定と学習方法及び装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
新保 斎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004136167
Publication number (International publication number)：2005013713
Application date： Apr. 30, 2004
Publication date： Jan. 20, 2005
Summary：
【課題】 2つの課題を同時に提示することを基本として、被験者の注意機能を検査する注意機能検査方法及び装置、並びに、注意機能を向上させる注意機能学習方法及び装置を提供すること。【解決手段】 二重課題表示手段によって、少なくとも視認による連続した注意を要求するトラッキング課題を行わせるために提示するトラッキング作業標識、並びに、視認による記憶作業を要求する記憶課題を行わせるために提示する記憶標識とを、それらの少なくとも一部分同士を同時に視認される形態で被験者に提示し、解答入力手段によって、二重課題に対して被験者に解答を入力させて、被験者の分割的注意機能を測定する。【選択図】 図7
Claim (excerpt)：
少なくとも視認による連続した注意を要求するトラッキング課題を行わせるために提示するトラッキング作業標識、並びに、視認による記憶作業を要求する記憶課題を行わせるために提示する記憶標識とを、それらの少なくとも一部分同士を同時に視認される形態で被験者に提示する二重課題表示手段と、
その二重課題に対して、被験者に解答を入力させるための解答入力手段とを備え、
被験者の分割的注意機能を測定することを特徴とする注意機能測定装置。
IPC (1)：
FI (1)：
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