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J-GLOBAL ID:200903058953529223

X線CTスキャナ

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 波多野 久 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996231095
Publication number (International publication number):1998071141
Application date: Aug. 30, 1996
Publication date: Mar. 17, 1998
Summary:
【要約】【課題】X線管の焦点サイズを切り変えた場合でも、2次元検出器の指定した検出素子列にX線ビームの本影のみを入射させるようにプリコリメータのスライス方向の開口幅を制御し、再構成画像の画質の劣化を防止し、被爆の影響を最小限に抑える。【解決手段】X線CTスキャナにおいて、X線検出器11を2次元検出器で形成する。X線管10の焦点サイズを切り換えた場合でも、X線検出器11の複数の検出素子列の内の指定された検出素子列がプリコリメータ15により形成されたX線プロファイルの本影を受けるようにプリコリメータ15のスライス方向の開口幅を制御する手段(30、33、12、38)と、X線検出器11の指定検出素子列により検出されたデータに基づきCT像を再構成する手段(13、35)とを備える。
Claim (excerpt):
X線ビームを曝射する焦点を有するX線源と、被検体と前記X線源との間に介挿されて前記被検体のスライス方向における前記X線ビームの幅を絞るプリコリメータと、前記被検体を透過した前記X線ビームを受けるX線検出器とを備えたX線CTスキャナにおいて、前記X線検出器を、複数の検出チャンネルから成る検出素子列を前記スライス方向に複数配列した2次元検出器で形成するとともに、前記X線源の焦点のサイズに応じて、前記複数の検出素子列の内の指定された検出素子列が前記プリコリメータにより形成されたX線ビームのプロファイルの本影および半影の内の本影を受けるように当該プリコリメータを制御する制御手段と、前記指定された検出素子列により検出されたデータに基づいてX線CT像を再構成する再構成手段と、を備えたことを特徴とするX線CTスキャナ。
IPC (3):
A61B 6/03 320 ,  A61B 6/03 ,  G21K 1/02
FI (4):
A61B 6/03 320 B ,  A61B 6/03 320 K ,  A61B 6/03 320 Y ,  G21K 1/02 R
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
  • X線CTスキャナ
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平8-029645   Applicant:株式会社東芝
  • 特開昭54-013786

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