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J-GLOBAL ID:200903058959045775

電子ベース・リソグラフィのための高感度レジスト組成物

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 坂口 博 ,  市位 嘉宏 ,  上野 剛史
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2004558994
Publication number (International publication number):2006512600
Application date: Dec. 05, 2002
Publication date: Apr. 13, 2006
Summary:
【課題】 本発明のレジスト組成物は、酸感応性像形成ポリマーと、放射線感応性酸発生剤成分とを有するレジスト組成物を提供する。【解決方法】 本レジスト組成物は、(i)溶解抑制酸発生剤からなる群から選択された第1の放射線感応性酸発生剤と、(ii)未保護酸性基-官能基化酸発生剤と、酸不安定基保護酸性基-官能基化放射線感応性酸発生剤とからなる群から選択された第2の放射線感応性酸発生剤と、を含み、EPL、EUV、軟X線、その他の低エネルギー強度リソグラフィ像形成用途に用いるのに適した高感応性レジストの形成を可能にする。レジスト組成物は、他のリソグラフィ法にも有用である。
Claim (excerpt):
(a)像形成ポリマーと、 (b)放射線感応性酸発生剤成分と、 を含み、前記放射線感応性酸発生剤成分が、 (i)溶解抑制酸発生剤からなる群から選択された第1の放射線感応性酸発生剤と、 (ii)未保護酸性基-官能基化放射線感応性酸発生剤と、酸不安定基保護酸性基-官能基化放射線感応性酸発生剤とからなる群から選択された第2の放射線感応性酸発生剤と、 を含むことを特徴とするレジスト組成物。
IPC (4):
G03F 7/039 ,  G03F 7/004 ,  G03F 7/11 ,  H01L 21/027
FI (4):
G03F7/039 601 ,  G03F7/004 503A ,  G03F7/11 503 ,  H01L21/30 502R
F-Term (17):
2H025AA01 ,  2H025AA11 ,  2H025AB16 ,  2H025AC04 ,  2H025AC05 ,  2H025AC06 ,  2H025AD03 ,  2H025BE00 ,  2H025BE07 ,  2H025BE10 ,  2H025BG00 ,  2H025CB17 ,  2H025CB41 ,  2H025DA35 ,  2H025DA40 ,  2H025FA17 ,  2H025FA39
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (18)
  • 米国特許第6,043,003号
  • 米国特許第5,374,504号
  • 米国特許第5,191,124号
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Cited by examiner (8)
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