穀類の穀粒の像を記録し、割れを検出するための方法並びに装置

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (8)：鈴江武彦 , 河野哲 , 中村誠 , 蔵田昌俊 , 峰隆司 , 福原淑弘 , 村松貞男 , 橋本良郎
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2002542847
Publication number (International publication number)：2004514131
Application date： Nov. 14, 2001
Publication date： May. 13, 2004
Summary：

【課題】【解決手段】小さな粒を記録して、この粒の品質を分析し、特に粒の何らかの割れを検出するための方法並びに装置を提供する。この方法は、少なくとも1つの粒を各々に有する粒サンプルを、像記録のための場所に供給する工程(102)と、各方向に異なる波長を有する光によって少なくとも2方向から同時に粒サンプルを照明する工程(104)とを有する。この方法はまた、異なる波長の光に感応する異なるチャネルで粒サンプルの複数の部分像を記録する像記録手段を用いて、照明された粒サンプルの像を記録する工程(106)と、粒サンプルを分析するために異なる部分像を有する工程(108)を有する。各部分像は、一方向のみの波長の光を記録するチャネルによって1方向から照明された粒サンプルを夫々示す。

Claim (excerpt)：

穀物など穀類の穀粒のような小さな粒の像を記録し、粒の品質を分析し、特に粒の何らかの割れを検出するための方法であって、少なくとも1つの粒を各々が有する複数の粒サンプルを、像を記録するための場所に供給する工程(102)と、各方向に対して異なる波長を有する光により前記粒サンプルの1つを同時に少なくとも2方向から照明する工程(104)と、異なる波長の光に夫々感応する異なるチャネル中の粒サンプルの複数の部分像を記録するための像記録手段を用いて、前記照明されている粒サンプルの像を記録する工程(106)と、前記粒サンプルを分析するために、異なる波長の光のうち1つの光のみを記録するチャネルによって1方向から照明された粒サンプルを夫々示す複数の部分像を比較する工程(108)とを具備する方法。

IPC (1)：

G01N21/85

FI (1)：

G01N21/85 A

F-Term (9)：

2G051AA04 , 2G051AB03 , 2G051BA01 , 2G051BA08 , 2G051BB01 , 2G051CA11 , 2G051CA20 , 2G051CB02 , 2G051DA08

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (6)

特開平2-213711
特開昭57-151804
粒状物品位判別装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-218091 Applicant：株式会社佐竹製作所

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Cited by examiner (7)

特開平2-213711
粒状物品位判別装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-218091 Applicant：株式会社佐竹製作所
特開平2-213711

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