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J-GLOBAL ID：200903059057219009

測定データ整形方法

Inventor： 門脇 聰一 ,  堀内 直治 ,  後藤 智徳
Applicant, Patent owner： 株式会社ミツトヨ
Agent (1)： 岩橋 祐司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002080535
Publication number (International publication number)：2003279343
Application date： Mar. 22, 2002
Publication date： Oct. 02, 2003
Summary：

【要約】【課題】 本発明の目的は、測定データの整形処理が処理負荷を低減しつつ良好に行える測定データ整形方法を提供することにある。【解決手段】 測定データに幾何要素をあてはめ、該幾何要素に対する残差の統計量を求めて該測定データの整形処理を行う測定データ整形方法において、前記測定データに前記幾何要素をあてはめる区間を決定するあてはめ区間決定工程(S14)と、前記測定データより、あてはめ区間決定工程(S14)で決定されたあてはめ区間の区間測定データを抽出し、該区間測定データに前記幾何要素をロバストあてはめする幾何要素あてはめ工程(S22)と、を備えたことを特徴とする測定データ整形方法。

Claim (excerpt)：

測定データに幾何要素をあてはめ、該幾何要素に対する残差の統計量を求めて該測定データの整形処理を行う測定データ整形方法であって、前記幾何要素に対する許容残差を設定する許容残差設定工程と、前記幾何要素に対する前記測定データの残差の統計量の限界値を設定する限界値設定工程と、前記測定データに前記幾何要素をあてはめる区間を決定するあてはめ区間決定工程と、前記測定データから前記あてはめ区間における区間測定データを抽出し、該区間測定データに前記幾何要素をロバストあてはめする幾何要素あてはめ工程と、前記ロバストあてはめの結果から、異常データを前記区間測定データから除去し、残りの該区間測定データを第2の区間測定データとする異常データ除去工程と、前記あてはめられた幾何要素に対する前記第2の区間測定データの残差の統計量を算出する統計量算出工程と、前記残差の統計量を基に前記限界値を超える前記第2の区間測定データを無効データとして該第2の区間測定データから除外し、残りの該第2の区間測定データを第3の区間測定データとする無効データ除去工程と、を備えたことを特徴とする測定データ整形方法。

F-Term (10)：

2F069AA51 ,  2F069AA66 ,  2F069GG01 ,  2F069GG12 ,  2F069GG62 ,  2F069HH01 ,  2F069HH02 ,  2F069JJ22 ,  2F069NN21 ,  2F069NN26