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J-GLOBAL ID：200903059178719114

歪み計測方法および装置

Inventor： 中村 敏夫 ,  井上 好章 ,  紀 博徳 ,  山浦 剛俊 ,  開 登喜雄
Applicant, Patent owner： 三菱重工業株式会社
Agent (1)： 奥山 尚男 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999079061
Publication number (International publication number)：2000275018
Application date： Mar. 24, 1999
Publication date： Oct. 06, 2000
Summary：

【要約】【課題】 トンネル等の構築物に発生した歪みを人手を要することなく精度良く計測する。【解決手段】 構築物1の被測定部位にループ状に光ファイバ2cを貼着する工程と、光ファイバ2cに入射させた光の散乱光に基づいてファイバ2cの歪みを計測する工程とを含むことを特徴とする歪み計測方法。

Claim (excerpt)：

構築物の歪みを計測する方法であって、前記構築物の被測定部位にループ状に光ファイバを貼着する工程と、前記光ファイバに入射させた光の散乱光に基づいて該光ファイバの歪みを計測する工程とを含むことを特徴とする歪み計測方法。

IPC (3)：

G01B 11/16 ,  G01D 5/26 ,  G01L 1/24

FI (3)：

G01B 11/16 Z ,  G01D 5/26 D ,  G01L 1/24 A

F-Term (26)：

2F065AA01 ,  2F065AA65 ,  2F065BB05 ,  2F065CC14 ,  2F065CC40 ,  2F065DD06 ,  2F065FF00 ,  2F065FF12 ,  2F065FF32 ,  2F065FF58 ,  2F065GG04 ,  2F065GG08 ,  2F065JJ01 ,  2F065LL02 ,  2F103CA03 ,  2F103CA07 ,  2F103DA01 ,  2F103EA14 ,  2F103EA17 ,  2F103EA19 ,  2F103EA23 ,  2F103EB02 ,  2F103EB11 ,  2F103EC08 ,  2F103FA02 ,  2F103FA04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 温度測定用光ファイバセンサ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-256349   Applicant：石川島播磨重工業株式会社
• 熱変位補正機能付き工作機械
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-030820   Applicant：東芝機械株式会社