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J-GLOBAL ID：200903059225166129

電気試験装置及び故障救済方法

Inventor： 澤田 正
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 松本 眞吉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991246243
Publication number (International publication number)：1993087879
Application date： Sep. 25, 1991
Publication date： Apr. 06, 1993
Summary：

【要約】【目的】本発明は、電気試験装置及び故障救済方法に関し、故障原因解析時間を短縮し、故障救済処理を効率的に行うことを目的とする。【構成】テストスキップデータは、プリント基板識別符号と、電気試験前に検出された故障によりプリント基板1に入力パターンを与えても期待値パターンが得られないと予測されるテストデータを識別するデータからなる。テストデータがテストスキップデータで識別されるテストデータ以外のものであるときのみ、プリント基板1の該試験箇所に入力パターンを与え、プリント基板1から得られる出力パターンを期待値パターンと比較して故障であるか否かを判定する。電気試験前後に検出された故障の救済処理を、電気試験後に一度に行う。

Claim (excerpt)：

プリント基板(1)の試験箇所と該試験箇所に与える入力パターンと該入力パターンを与えたときに該プリント基板から得られる出力パターンの期待値パターンとが格納されたテストデータ記憶手段(2)と、プリント基板識別符号と該符号のプリント基板に該入力パターンを与えても該期待値パターンが得られないと予測される該テストデータを識別するテストスキップデータとが格納されたテストスキップデータ記憶手段(3)と、該テストデータ記憶手段及び該テストスキップデータ記憶手段から該データを読み出し、該テストデータが該テストスキップデータで識別されるテストデータ以外のものであるか否かを判別するテストスキップ判別手段(4)と、該テストデータが該テストスキップデータで識別されるテストデータ以外のものであると判別された場合のみ、該プリント基板の該試験箇所に該入力パターンを与え、該プリント基板から得られる出力パターンを該期待値パターンと比較して故障であるか否かを判定するテスト実行手段(5)と、を有することを特徴とする電気試験装置。