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J-GLOBAL ID：200903059275853445
イオントラップ型質量分析装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994317950
Publication number (International publication number)：1996178899
Application date： Dec. 21, 1994
Publication date： Jul. 12, 1996
Summary：
【要約】【目的】大気圧イオン化法を用いて生成したイオンを感度良く測定できるイオントラップ型質量分析計を提供する。【構成】イオントラップ質量分析部の二つのエンドキャップ電極と一つのリング電極との間に絶縁材をはめ込むことによって、質量分析部内を十分に閉空間とし、真空外のヘリウムガス供給源から、その絶縁材部に配管を通して、直接ヘリウムガスを導入するようにしたことを特徴とするイオントラップ型質量分析装置。【効果】検出器周辺の圧力を十分に低くすることができ、検出器における放電等の問題がなくなり、検出器に高電圧を印加した状態で長時間安定した測定が可能となる。
Claim (excerpt)：
大気圧またはこれに準じた圧力下でイオンを生成させる手段と、当該イオンを高真空中に導入するための差動排気部と、高真空中に導入された当該イオンを質量分析,検出するためのイオントラップ型質量分析部からなる質量分析計において、二つのエンドキャップ電極,一つのリング電極、及びエンドキャップ電極とリング電極間の二つの絶縁材で囲まれたイオントラップ型質量分析部内に直接、真空外のヘリウムガス供給源からヘリウムガスを導入する経路を設けたことを特徴とするイオントラップ型質量分析装置。
IPC (4)：
G01N 27/62
, G01N 30/72
, H01J 49/04
, H01J 49/24
