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J-GLOBAL ID：200903059299008177

X線断層撮影方法

Inventor： 竹村 國彦 ,  平野 圭蔵 ,  近藤 昭治 ,  曽根 ▲修▼輔 ,  春日 敏夫
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所 ,  長野日本無線株式会社
Agent (1)： 杉谷 勉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993079177
Publication number (International publication number)：1994261895
Application date： Mar. 12, 1993
Publication date： Sep. 20, 1994
Summary：

【要約】【目的】 ボケ像が加わらない断層像を再合成することができるX線断層撮影方法を提供する。【構成】 X線発生器2が第1軌道上を移動して複数回のX線の照射を行う過程と、X線検出器3が第2軌道上を移動してX線の照射と同期して被検査体1の複数個のX線投影像を記録する過程と、各X線投影像を被検査体の線吸収係数を表すデータの空間周波数領域のデータに変換する過程と、これらのデータを、X線照射位置、X線投影像記録位置および被検査体1の断層面の深さ11 ,...,1Mごとにあらかじめ決定した投影像のズレに関する空間周波数領域の伝達関数と、各断層面の未知の空間周波数領域のX線吸収係数分布との積で表した連立方程式を解くことによって、各断層面の空間周波数領域のX線吸収係数分布を求める過程と、これらのX線吸収係数分布を実空間領域のX線吸収係数分布のデータに変換する過程とを備える。

Claim (excerpt)：

X線照射手段が特定の第1軌道上を移動して、前記第1軌道上で複数回のX線の照射を行う過程と、X線検出手段が前記第1軌道と関連した特定の第2軌道上を移動して、前記第2軌道上で前記X線の照射と同期して被検査体の複数個のX線投影像を記録する過程と、前記記録された各X線投影像を照射されたX線に沿った被検査体の線吸収係数を表すデータの空間周波数領域のデータに変換する過程と、前記各X線投影像から得た線吸収係数の空間周波数領域のデータを、前記第1軌道上のX線照射位置、前記第2軌道上のX線投影像記録位置および被検査体の断層面の深さごとにあらかじめ決定した投影像のズレに関する空間周波数領域の伝達関数と、被検査体の各断層面の未知の空間周波数領域のX線吸収係数分布との積で表した連立方程式を解くことによって、前記各断層面の空間周波数領域のX線吸収係数分布を求める過程と、前記各断層面の空間周波数領域のX線吸収係数分布を実空間領域のX線吸収係数分布のデータに変換する過程とを備えたことを特徴とするX線断層撮影方法。

IPC (3)：

A61B 6/02 301 ,  H04N 5/325 ,  G03B 42/02