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J-GLOBAL ID：200903059312297400
分布型の歪み及び温度センシングシステム
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
大菅 義之
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1998527454
Publication number (International publication number)：2001507446
Application date： Dec. 16, 1997
Publication date： Jun. 05, 2001
Summary：
【要約】構造体中の温度及び歪みを測定する方法及び装置は、上記構造体中に組み込まれた光ファイバを有すること、光パルスを上記光ファイバに通過させること、及び、後方散乱光を検出することにある。上記後方散乱光は、入射光と比べて変化した波長を有しており、これは後方散乱された地点での歪みに依存する(ブリュアンシフト)。光走査型フィルタの走査速度を光パルスの反復速度よりも遅くすることにより、また、ブリュアン散乱光の振幅及び周波数の両方を時間の関数として正確に測定し、これを参照用光ファイバと比較することにより、光ファイバに沿った位置での温度及び歪みが測定可能となる。本発明は、構造体中に分布して引き起こされた温度上昇や歪みを測定するのに利用可能である。
Claim (excerpt)：
温度及び歪みの分布を同時測定する装置であって、光パルスを発生させるための光源と、該光源によって発生された光パルスを通過させ得る少なくとも1個の光ファイバからなるセンシングネットワークと、物理パラメータを前記センシング光ファイバに沿った歪み又は温度の変化に変換するようにし、それにより前記光ファイバを戻って来る後方散乱光(ブリュアン後方散乱信号及びレイリー後方散乱信号)のスペクトル感度に変化を与える変換手段と、既知の大きさの物理パラメータの下に置かれた参照区域と、レイリーピーク及びブリュアンピークを分析可能な走査型光フィルタ上へ戻り光の一部を送り、該光信号を電気信号に変換してから処理手段へ供給する受信手段とを備え、前記走査型光フィルタの走査速度を前記光パルスの反復速度よりも遅くし、前記後方散乱光のスペクトル光を前記光ファイバの長さに沿って記録可能にし、レイリーピークと比べてのブリュアンピークの振幅及び周波数シフトの両方を正確に測定可能にし、該測定値から光ファイバの同一長さに沿った温度分布及び歪み分布を決定可能である装置。
IPC (2)：
FI (2)：
G01D 5/26 D
, G01K 11/12 F
