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J-GLOBAL ID:200903059319851038

3次元モデル化方法及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 萼 経夫 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000292325
Publication number (International publication number):2002099901
Application date: Sep. 26, 2000
Publication date: Apr. 05, 2002
Summary:
【要約】【課題】 表面の位置にずれのない高精度の3次元モデルが得られ、CADあるいはCAE等による同モデル(データ)の再利用や加工においても高精度のデータが得られる3次元モデル化方法及び装置を提供する。【解決手段】 被測定物の断面像を用いた三角形ポリゴンの生成処理で用いる表面(輪郭)抽出のためのしきい値として、被測定物と同材質のテストピース31の断面像の輪郭両端部分における輝度値の特性曲線32上の各点から求められる輪郭両端間寸法L1〜Lnのうち、テストピース31の両端間の実寸法L3と一致する特性曲線32上の点に対応する輝度値br3を用いる。
Claim (excerpt):
被測定物の一定方向に沿って間隔を置いて得られた複数枚の断面像中の隣接する2枚の断面像の対向する各4画素の輝度値を頂点に与えた六面体を得て、その各頂点の輝度値としきい値との比較結果に基づき三角形ポリゴンを生成する補間面形成処理によって3次元モデルを構成する3次元モデル化方法において、前記しきい値として、前記被測定物と同材質で寸法が既知のテストピースの断面像の輪郭の両端部分における輝度値の立上がり、立下がり特性曲線上の各点から求められる前記輪郭の両端間寸法のうち、前記テストピースの両端間の実寸法と一致する当該特性曲線上の点に対応する輝度値を用いることを特徴とする3次元モデル化方法。
IPC (3):
G06T 1/00 315 ,  A61B 6/03 360 ,  G06T 15/00 200
FI (3):
G06T 1/00 315 ,  A61B 6/03 360 G ,  G06T 15/00 200
F-Term (12):
4C093CA50 ,  4C093FC12 ,  4C093FF16 ,  4C093FF22 ,  4C093FF35 ,  4C093FF42 ,  4C093FF50 ,  5B057DA11 ,  5B057DA20 ,  5B057DC16 ,  5B057DC22 ,  5B080AA14
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • 特開昭62-037782
Cited by examiner (1)
  • 特開昭62-037782

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