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J-GLOBAL ID：200903059409376231
SIM法を用いたクロマトグラフ質量分析装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小林 良平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994194924
Publication number (International publication number)：1996043374
Application date： Jul. 26, 1994
Publication date： Feb. 16, 1996
Summary：
【要約】【目的】 最適なモニタイオンを自動的に決定する。【構成】 まず、質量走査により定性分析を行なって化合物を決定し、その分子イオン、又は分子イオンから所定のラジカルが離脱したフラグメントイオンを含むモニタイオン候補を決定する。次に、各モニタイオン候補のマスクロマトグラムを作成し、そのピークトップの保持時間のズレが許容範囲内であるか否かの純度確認を行なったモニタイオン候補の中からモニタイオンを決定する。
Claim (excerpt)：
クロマトグラフ装置により成分分離された試料に対して、所定のモニタイオンについて質量分析装置により分析を行なう、SIM法を用いたクロマトグラフ質量分析装置において、a)クロマトグラフ装置を通過した試料に対して質量分析装置において短時間毎に繰り返し質量走査することにより、短時間毎のマススペクトルを採取するマススペクトル採取手段と、b)採取されたマススペクトルから全イオンクロマトグラムを作成し、そのピーク部分のマススペクトルから、所定のデータベースを参照することにより該ピークに対応する化合物を決定する化合物決定手段と、c)上記化合物の分子イオン又は分子イオンから所定のラジカルが離脱したフラグメントイオンを含むモニタイオン候補を決定するモニタイオン候補決定手段と、d)各モニタイオン候補のマスクロマトグラムを作成し、そのピークの保持時間が許容範囲内であるモニタイオン候補の中からモニタイオンを決定するモニタイオン決定手段と、e)決定されたモニタイオンを用いてSIM法による分析を行なうSIM分析手段と、を備えることを特徴とする、SIM法を用いたクロマトグラフ質量分析装置。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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