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J-GLOBAL ID：200903059415322631

空港制限表面チェック装置及びそのためのプログラムを記憶した記憶媒体

Inventor： 千葉 喜昭 ,  石田 眞二
Applicant, Patent owner： 株式会社近代設計
Agent (1)： 石川 泰男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000213732
Publication number (International publication number)：2002032421
Application date： Jul. 14, 2000
Publication date： Jan. 31, 2002
Summary：

【要約】【課題】 調査点におけるクリアランスを容易かつ迅速に取得すること、及び航空運用の専門家以外の者が容易に制限表面を理解することができる制限表面のチェック装置及びプログラムを提供する。【解決手段】 調査対象物と制限表面との干渉をチェックする制限表面チェック装置において、調査対象領域の位置情報を入力する入力手段と、入力された位置情報に対応する地図を表示する地図表示手段と、調査対象領域の平面的輪郭を画定する複数の頂点の位置情報を地図上で入力するための頂点入力手段と、前記複数の頂点における調査対象物の絶対高さを決定する絶対高さ決定手段と、前記複数の頂点における制限表面の高さを算出する制限高さ算出手段と、前記複数の頂点について、前記制限表面の高さと前記調査対象物の絶対高さを比較してクリアランスを算出するクリアランス算出手段と、算出結果を表示する結果表示手段と、を備える。

Claim (excerpt)：

調査対象物と制限表面との干渉をチェックする制限表面チェック装置において、調査対象領域の位置情報を入力する入力手段と、入力された位置情報に対応する地図を表示する地図表示手段と、調査対象領域の平面的輪郭を画定する複数の頂点の位置情報を地図上で入力するための頂点入力手段と、前記複数の頂点における調査対象物の絶対高さを決定する絶対高さ決定手段と、前記複数の頂点における制限表面の高さを算出する制限高さ算出手段と、前記複数の頂点について、前記制限表面の高さと前記調査対象物の絶対高さを比較してクリアランスを算出するクリアランス算出手段と、算出結果を表示する結果表示手段と、を備える制限表面チェック装置。

IPC (3)：

G06F 17/50 628 ,  G06F 17/50 680 ,  G06T 11/60 300

FI (3)：

G06F 17/50 628 A ,  G06F 17/50 680 B ,  G06T 11/60 300

F-Term (7)：

5B046AA04 ,  5B046FA07 ,  5B046GA01 ,  5B046JA02 ,  5B050AA07 ,  5B050BA17 ,  5B050FA02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 映像地図連携システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-355692   Applicant：富士通株式会社
• 干渉チェック方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-174627   Applicant：富士通株式会社