Pat

J-GLOBAL ID：200903059605566081

実装検査装置

Inventor： 藤原 宏章 ,  兼松 宏一 ,  岡田 康弘 ,  佐藤 健一
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 森本 義弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994148416
Publication number (International publication number)：1996018300
Application date： Jun. 30, 1994
Publication date： Jan. 19, 1996
Summary：

【要約】【目的】 複数のプリント基板の実装品質結果を集計する作業において、実際のプリント基板の状態を検査する検査装置から検査計測データの情報通信項目を、常に必要かつ十分な情報量にする。【構成】 複数のプリント基板の実装品質結果を集計分析する作業を対象として、プリント基板を実際に検査する検査装置1と、検査装置1からの検査計測データを集計し、品質を分析する集計分析装置2を備え、集計分析装置2は、検査装置1から集計分析装置に送る予め指定したデータの項目を、生産中でも変更する手段をもち、検査装置1から送る検査計測データの項目の指示の変更を、集計分析装置2での品質集計結果に基づいて決定するようにした。

Claim (excerpt)：

複数のプリント基板の実装品質結果を集計分析する作業を対象として、プリント基板を実際に検査する検査装置と、検査装置からの検査計測データを集計し、品質を分析する集計分析装置を備え、集計分析装置は、検査装置から集計分析装置に送るあらかじめ指定したデータの項目を、生産中でも変更する手段をもつことを特徴とする実装検査装置。