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J-GLOBAL ID：200903059671380886

テラヘルツ波を用いた差分イメージング方法及び装置

Inventor： 川瀬 晃道 ,  伊藤 弘昌 ,  南出 泰亜
Applicant, Patent owner： 理化学研究所
Agent (1)： 堀田 実
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002270917
Publication number (International publication number)：2004108905
Application date： Sep. 18, 2002
Publication date： Apr. 08, 2004
Summary：

【課題】従来のX線写真では判断できなかった内在物の異常性を検出することができるテラヘルツ波を用いた差分イメージング方法及び装置を提供する。【解決手段】約0.5〜3THzの周波数範囲において異なる2波長のテラヘルツ波4を発生させ、2波長のテラヘルツ波を被対象物10に照射してそれぞれの透過率を計測し、その透過率の相違からテラヘルツ波の吸収に波長依存性のあるターゲットの有無を検出する。更に、被対象物の表面に異なる2波長のテラヘルツ波4をそれぞれ二次元的に走査し、2波長の透過率が相違する位置を二次元的に画像表示する。【選択図】 図3

Claim (excerpt)：

約0.5〜3THzの周波数範囲において異なる2波長のテラヘルツ波(4)を発生させ、該2波長のテラヘルツ波を被対象物(10)に照射してそれぞれの透過率を計測し、その透過率の相違からテラヘルツ波の吸収に波長依存性のあるターゲットの有無を検出する、ことを特徴とするテラヘルツ波を用いた差分イメージング方法。

IPC (2)：

G01N21/35 ,  G02F1/39

FI (2)：

G01N21/35 Z ,  G02F1/39

F-Term (23)：

2G059AA05 ,  2G059CC12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE11 ,  2G059FF01 ,  2G059GG01 ,  2G059GG05 ,  2G059HH01 ,  2G059HH05 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK09 ,  2G059MM01 ,  2K002AA04 ,  2K002AB13 ,  2K002BA01 ,  2K002CA03 ,  2K002HA21 ,  2K002HA23

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• テラヘルツ分光光度計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-135199   Applicant：伊藤弘昌