Pat
J-GLOBAL ID:200903059688628466
学習および試験機能を有する位置確認
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
田澤 博昭 (外1名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):1998514458
Publication number (International publication number):2000501018
Application date: Sep. 15, 1997
Publication date: Feb. 02, 2000
Summary:
【要約】患者の体(20)内の物体(22)の位置を確認するための確認装置(32)を提供する。この装置は学習モードと試験モードを有し、物体の位置に応答して物体から信号を受ける受信機(76)を有する。パラメーターべクトルは信号から得られる。メモリー(58)は学習モードでパラメーターべクトルの学習値を記録する。プロセッサー(54)は試験モードでパラメーターべクトルの試験値を受け、そしてその試験値が学習値の所定範囲内にあるかどうか決定し、それによって物体(22)の位置を確認する。
Claim (excerpt):
人間の体内に挿入された物体の位置を確認する方法であって、 最初に物体から信号を受けることによって前記物体の位置に依存するパラメーターべクトルの最初の値を測定する工程と、 後に前記物体から信号を受けることによって前記べクトルの第2の値を測定し、前記最初の値の所定範囲内に前記第2の値があるかどうか決定する工程を含む方法。
IPC (3):
A61B 5/06
, A61B 19/00 501
, A61B 19/00 502
FI (3):
A61B 5/06
, A61B 19/00 501
, A61B 19/00 502
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
-
内視鏡形状検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-180469
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
患者の体内の医療用チューブの位置検出装置及び方法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平7-509351
Applicant:ユニバーシティオブワシントン
Return to Previous Page