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J-GLOBAL ID：200903059694953964
米粒判別装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
浅村 皓 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994208646
Publication number (International publication number)：1996075657
Application date： Sep. 01, 1994
Publication date： Mar. 22, 1996
Summary：
【要約】【目的】 従来下部からの照明だけでは判別が難しかった粉状質粒などの光の透過量の少ない試料において、粒長の測定精度を胴割粒の選別性能を低下させること無く向上させる。【構成】 透明な回転板の周辺に設けられたくぼみ中に位置された米粒に、上下2方向からかつ米粒の長軸方向に対して傾斜した方向から光を照射して、その米粒内または米粒表面で拡散反射された光をラインイメージセンサ上に結像させ、その米粒の像の長軸方向に沿った方向の光強度分布を検出し、その光強度分布に基づきその米粒の胴割の存在、砕粒か否かの判別、ならびに粒長の測定を行うようにした米粒判別装置。
Claim (excerpt)：
上面に米粒を収容する少なくとも1つの楕円形のくぼみを形成すると共に、少なくともそのくぼみの下部が光を透過する材料で構成された米粒保持体と、前記米粒の長軸方向に対し傾斜した方向よりそれぞれ該米粒全体に前記米粒保持体の上方と下方から光を照射する手段と、前記米粒内で乱反射された光と該米粒表面で反射された光とを該米粒の長軸方向に沿って感知して、該米粒の長軸方向に沿った光の強度分布を検出する手段と、該光強度分布検出手段で検出された光強度分布が所定値以上の変化率をもってくぼみ状に低下してから上昇する部分の存在を検出するくぼみ検出手段と、該くぼみ検出手段でくぼみの存在を検出したとき該米粒を胴割れ米と判定する手段と、を備えたことを特徴とする米粒判別装置。
Patent cited by the Patent：
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