サンプル分析システムおよび方法

Inventor： , , , , , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：山田卓二 , 田中光雄 , 竹内三喜夫
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2007534561
Publication number (International publication number)：2008514955
Application date： Jan. 28, 2005
Publication date： May. 08, 2008
Summary：

本発明は、単一粒子分析器、分析器の使用方法、単一粒子または複合粒子(マルチプレキシング)に関するサンプルを分析するための分析器システム、分析器またはシステムの分析器システムの使用に基づいたビジネスを行う方法、および本発明の分析器および分析器システムで有用なパラメータを保存するための電子媒体を含む分析器および分析器システムを包含する。

Claim (excerpt)：

(a)複数のサンプルを自動的にサンプリングして、サンプル容器と第1取り調べ空間との間の流体通路を提供可能であるサンプリングシステムと、 (b)単一粒子を検出可能である分析器とを備え、該分析器は、(i)電磁放射を発生する電磁放射源と、 (ii)電磁放射源から発生した電磁放射を受けるように位置決めされた第1取り調べ空間と、 (iii)電磁放射源から発生した電磁放射を受けるように位置決めされた第2取り調べ空間であって、第2取り調べ空間は、第1取り調べ空間との流体通路中にあり、粒子が第1取り調べ空間と第2取り調べ空間との間で移動可能なように、推進力が第1取り調べ空間と第2取り調べ空間との間に存在するようにした、第2取り調べ空間と、 (iv)第1取り調べ空間と動作可能に連結して、粒子の第1電磁放射特性を測定する第1電磁放射検出器と、 (v)第2取り調べ空間と動作可能に連結して、粒子の第1電磁放射特性および粒子の第2電磁放射特性のうちの少なくとも1つを測定する第2電磁放射検出器とを備えるようにした、単一粒子分析器システム。

IPC (3)：

G01N 21/64 , G01N 21/78 , G01N 33/53

FI (4)：

G01N21/64 F , G01N21/78 C , G01N33/53 D , G01N33/53 M

F-Term (36)：

2G043AA01 , 2G043AA03 , 2G043BA16 , 2G043CA03 , 2G043DA01 , 2G043DA02 , 2G043EA01 , 2G043EA13 , 2G043EA19 , 2G043FA06 , 2G043FA07 , 2G043KA02 , 2G043KA03 , 2G043KA05 , 2G043KA09 , 2G043LA01 , 2G043LA02 , 2G043LA03 , 2G043NA11 , 2G054AA06 , 2G054AA07 , 2G054AA08 , 2G054AB02 , 2G054BB03 , 2G054CA22 , 2G054CA23 , 2G054CD01 , 2G054CE02 , 2G054EA03 , 2G054EA04 , 2G054EB01 , 2G054GA02 , 2G054GA03 , 2G054GA04 , 2G054GA05 , 2G054JA06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

多重分析物診断システム及びコンピュータに実装したそのプロセス
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2000-548708 Applicant：ルミネックスコーポレイション
キャピラリアレイを用いた電気泳動装置及びそれに用いられるサンプルプレートアセンブリ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-147496 Applicant：株式会社日立製作所
特開平2-263153

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

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