Pat
J-GLOBAL ID：200903059879095433
プリント基板の検査方法及び装置
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
,
,
,
Agent (1)：
小松 秀岳 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993230167
Publication number (International publication number)：1995174709
Application date： Sep. 16, 1993
Publication date： Jul. 14, 1995
Summary：
【要約】【目的】 プリント基板にあけられたスルホールを非破壊的に検査する方法と装置を提供するもので、検査の自動化を可能とするものである。【構成】 プリント基板にあけられた各スルホールの一と孔サイズを記録する第一の工程、該記録データに基づいてプリント基板上法より欠くスルホールに光を照射し、スルホールを通過した光量をプリント基板下方に設けられた光センサーで測定する第二の工程、及び第二の工程で得られた透過光量のデータから所定のスルホール径以外のものの有無を判定する第三の工程からなる、プリント基板のスルホールの検査方法である。また、プリント基板にあけられたスルホールの位置と穴サイズを検出、記録する第一の装置、プリント基板の上方に光源が設けられ、プリント基板の下方に光センサーが設けられ、スルホールを通過する光量を検出する第二の装置、及び第二の装置で得られた通過光量のデータから所定のスルホール径以外のものの有無を判定する第三の装置からなるプリント基板の検査装置である。
Claim (excerpt)：
プリント基板にあけられた各スルホールの位置と穴サイズを記録する第一の工程、該記録データに基づいてプリント基板上方より各スルホールに光を照射し、スルホールを通過した光量をプリント基板下方に設けられた光センサーで測定する第二の工程、及び第二の工程で得られた透過光量のデータから所定のスルホール径以外のものの有無を判定する第三の工程からなる、プリント基板のスルホールの検査方法。
IPC (3)：
G01N 21/88
, H05K 3/00
, H05K 3/46
