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J-GLOBAL ID:200903059879459443
眼科装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
遠山 勉 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998061797
Publication number (International publication number):1999253403
Application date: Mar. 12, 1998
Publication date: Sep. 21, 1999
Summary:
【要約】【課題】 被験者に負担を与えることなく、測定個所が明瞭に判る観察像が得ることができる眼科装置を提供する。【解決手段】 LD1が出力する赤外光を走査するためのガルバノミラー16、18を含む共焦点光学系を有する被検眼50の眼底を観測する観測系と、SLD26から出力される干渉長の短い低コヒーレント光を、当該共焦点光学系を利用して被検眼50に導入することによって、被検眼50の断面像を得る測定系とを、眼科装置に具備させる。
Claim (excerpt):
レーザビームの走査を行うための走査手段を含む共焦点光学系と、前記共焦点光学系を利用して、観察用レーザ光を被検眼の所定面上を走査させるとともに、前記観察用光レーザ光の前記被検眼の前記所定面からの反射光の強度を検出することによって、前記所定面の観察像を形成する観察像形成手段と、この観察像形成手段で形成された観察像を表示装置の画面に表示する観察像表示手段と、干渉長の短い低コヒーレント光を光源として干渉計を利用した測定を前記被検眼に対して行う測定手段とを備えることを特徴とする眼科装置。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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眼底撮影装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-307371
Applicant:キヤノン株式会社
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光学コヒーレンス断層撮影角膜マッピング装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-282375
Applicant:カール・ツアイス・スティフツング
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眼科用画像処理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-115682
Applicant:キヤノン株式会社
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