Pat
J-GLOBAL ID:200903059887743690

熱電素子の性能指数測定装置及び測定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 松澤 統
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001196416
Publication number (International publication number):2003014804
Application date: Jun. 28, 2001
Publication date: Jan. 15, 2003
Summary:
【要約】【課題】 短い測定時間で熱電素子の性能指数を正確に測定可能な、熱電素子の性能指数測定装置及び測定方法を提供する。【解決手段】 熱電素子(2)に交流電流(IAC)を流す交流電流源(7)と、熱電素子(2)に交流電流(IAC)と同時に直流電流(IDC)を流す直流電流源(8)と、熱電素子(2)の両端部にかかる電圧の、交流成分の振幅(VAC0)を測定する交流電圧計(9)と、熱電素子(2)の両端部にかかる電圧の、直流成分(VDC)を測定する直流電圧計(10)とを備え、同時に測定した前記電圧の交流成分の振幅(VAC0)及び直流成分(VDC)に基づいて、性能指数(ZT)を求めることを特徴とする熱電素子の性能指数測定装置。
Claim (excerpt):
熱電素子(2)の両端部間に電流を流し、その両端部間の電圧を測定して無次元性能指数(ZT)を測定する熱電素子の性能指数測定装置において、熱電素子(2)に交流電流(IAC)を流す交流電流源(7)と、熱電素子(2)に交流電流(IAC)と同時に直流電流(IDC)を流す直流電流源(8)と、熱電素子(2)の両端部にかかる電圧の、交流成分の振幅(VAC0)を測定する交流電圧計(9)と、熱電素子(2)の両端部にかかる電圧の、直流成分(VDC)を測定する直流電圧計(10)とを備え、同時に測定した前記電圧の交流成分の振幅(VAC0)及び直流成分(VDC)に基づいて、性能指数(ZT)を求めることを特徴とする熱電素子の性能指数測定装置。
IPC (4):
G01R 31/00 ,  G01N 25/20 ,  G01R 31/26 ,  H01L 35/28
FI (4):
G01R 31/00 ,  G01N 25/20 Z ,  G01R 31/26 H ,  H01L 35/28 Z
F-Term (16):
2G003AA00 ,  2G003AB01 ,  2G003AC03 ,  2G003AD02 ,  2G003AE01 ,  2G003AE02 ,  2G003AH05 ,  2G036AA19 ,  2G036AA28 ,  2G036BB22 ,  2G036CA00 ,  2G040AA00 ,  2G040AB18 ,  2G040BA01 ,  2G040CA13 ,  2G040DA03

Return to Previous Page