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J-GLOBAL ID：200903059887743690

熱電素子の性能指数測定装置及び測定方法

Inventor： 小矢野 幹夫 ,  岩崎 秀夫 ,  堀 秀信 ,  佐野 精二郎
Applicant, Patent owner： 株式会社小松製作所 ,  北陸先端科学技術大学院大学長
Agent (1)： 松澤 統
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001196416
Publication number (International publication number)：2003014804
Application date： Jun. 28, 2001
Publication date： Jan. 15, 2003
Summary：

【要約】【課題】 短い測定時間で熱電素子の性能指数を正確に測定可能な、熱電素子の性能指数測定装置及び測定方法を提供する。【解決手段】 熱電素子(2)に交流電流(IAC)を流す交流電流源(7)と、熱電素子(2)に交流電流(IAC)と同時に直流電流(IDC)を流す直流電流源(8)と、熱電素子(2)の両端部にかかる電圧の、交流成分の振幅(VAC0)を測定する交流電圧計(9)と、熱電素子(2)の両端部にかかる電圧の、直流成分(VDC)を測定する直流電圧計(10)とを備え、同時に測定した前記電圧の交流成分の振幅(VAC0)及び直流成分(VDC)に基づいて、性能指数(ZT)を求めることを特徴とする熱電素子の性能指数測定装置。

Claim (excerpt)：

熱電素子(2)の両端部間に電流を流し、その両端部間の電圧を測定して無次元性能指数(ZT)を測定する熱電素子の性能指数測定装置において、熱電素子(2)に交流電流(IAC)を流す交流電流源(7)と、熱電素子(2)に交流電流(IAC)と同時に直流電流(IDC)を流す直流電流源(8)と、熱電素子(2)の両端部にかかる電圧の、交流成分の振幅(VAC0)を測定する交流電圧計(9)と、熱電素子(2)の両端部にかかる電圧の、直流成分(VDC)を測定する直流電圧計(10)とを備え、同時に測定した前記電圧の交流成分の振幅(VAC0)及び直流成分(VDC)に基づいて、性能指数(ZT)を求めることを特徴とする熱電素子の性能指数測定装置。

IPC (4)：

G01R 31/00 ,  G01N 25/20 ,  G01R 31/26 ,  H01L 35/28

FI (4)：

G01R 31/00 ,  G01N 25/20 Z ,  G01R 31/26 H ,  H01L 35/28 Z

F-Term (16)：

2G003AA00 ,  2G003AB01 ,  2G003AC03 ,  2G003AD02 ,  2G003AE01 ,  2G003AE02 ,  2G003AH05 ,  2G036AA19 ,  2G036AA28 ,  2G036BB22 ,  2G036CA00 ,  2G040AA00 ,  2G040AB18 ,  2G040BA01 ,  2G040CA13 ,  2G040DA03

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 特開平1-161140
  
• 熱電特性測定方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-206483   Applicant：真空理工株式会社
• 熱電特性測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-217408   Applicant：徳山曹達株式会社