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J-GLOBAL ID：200903059891001410

放射線計測管理システム

Inventor： 牧野 文信 ,  工藤 勝則 ,  白川 典生 ,  川勝 俊二 ,  黒田 芳信 ,  大桐 俊幸
Applicant, Patent owner： 四国電力株式会社 ,  四電エンジニアリング株式会社 ,  株式会社千代田テクノル ,  東洋エンジニアリング株式会社
Agent (1)： 大浜 博
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996144310
Publication number (International publication number)：1997325184
Application date： Jun. 06, 1996
Publication date： Dec. 16, 1997
Summary：

【要約】【課題】 放射線発生施設の所定計測エリアにおける特定測定位置毎の計測データを自動的に入手してデータベース化することができる放射線計測管理システムを提供する。【解決手段】 放射線発生施設の所定の放射線計測エリア毎の特定の放射線測定位置を表示するバーコードと、バーコードリーダーを備え、上記バーコードによって表示された特定の測定位置における放射線量を計測し、バーコード読取データとともに出力する放射線計測手段と、該放射線計測手段と接続され、該放射線計測手段により計測された放射線量をバーコード読取データとともに入力し、該バーコード読取データによって示される特定の測定位置に対応して記録データベース化する放射線計測データ記録手段とを設けた。

Claim (excerpt)：

放射線発生施設の所定の放射線計測エリア毎の特定の放射線測定位置を表示するバーコードと、バーコードリーダーを備え、上記バーコードによって表示された特定の測定位置における放射線量を計測し、バーコード読取データとともに出力する放射線計測手段と、該放射線計測手段と接続され、該放射線計測手段により計測された放射線量をバーコード読取データとともに入力し、該バーコード読取データによって示される特定の測定位置に対応して記録データベース化する放射線計測データ記録手段とを備えてなる放射線計測管理システム。

IPC (2)：

G01T 1/16 ,  G01T 1/02

FI (2)：

G01T 1/16 A ,  G01T 1/02 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 放射線計測デ-タ処理システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-162024   Applicant：株式会社日立製作所, 日立ニユークリアエンジニアリング株式会社
• 特開昭63-228378
  
• 特開平1-244388
  
• 特開平4-031786