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J-GLOBAL ID：200903059970339760
分光光度計とその減衰全反射プリズムの製造方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
高橋 明夫 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991235986
Publication number (International publication number)：1993072119
Application date： Sep. 17, 1991
Publication date： Mar. 23, 1993
Summary：
【要約】 (修正有)【目的】 分光光度計用減衰全反射(ATR)プリズムに試料内の高分子が吸着、することを防止する。【構成】 ATRプリズム3の試料搭載面に分子配向を固定化して両親媒性を制御した厚みが赤外線波長の1/5以下のラングミュア-ブロジェット(LB)膜21を設ける。
Claim (excerpt)：
減衰全反射プリズムの面上に導入した液体試料を減衰全反射法により分析する分光光度計において、上記減衰全反射プリズムの面上に、膜厚を分子の大きさ単位で少なくとも一層以上累積した疎水性または親水性の単分子膜を備えるようにしたことを特徴とする分光光度計。
IPC (2)：
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