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J-GLOBAL ID：200903060055018446

レーザ発光分光分析方法及びその装置

Inventor： 酒井 稔 ,  山本 公
Applicant, Patent owner： 川崎製鉄株式会社
Agent (1)： 小杉 佳男 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994143453
Publication number (International publication number)：1996015153
Application date： Jun. 24, 1994
Publication date： Jan. 19, 1996
Summary：

【要約】【目的】レーザ照射用ランス先端と溶融物試料表面間の距離を自動的に調整しつつ分析するレーザ発光分光分析方法及びその方法の実施に利用できる装置の提供を目的としている。【構成】レーザ照射用ランスを介して、レーザ光を溶融物試料面に照射し、発生したプラズマの発光を分光させて得たスペクトル線の強度を測定して該溶融物試料中に含まれる元素を分析するレーザ発光分光分析方法において、上記溶融物試料面に超音波を別途照射し、その反射波を検出して該溶融物試料面高さを測定し、上記レーザ照射用ランス先端と溶融物試料面間の距離を一定に保つようにする。

Claim (excerpt)：

レーザ照射用ランスを介して、レーザ光を溶融物試料面に照射し、発生したプラズマの発光を分光させて得たスペクトル線の強度を測定して該溶融物試料中に含まれる元素を分析するレーザ発光分光分析方法において、上記溶融物試料面に超音波を別途照射し、その反射波を検出して該溶融物試料面高さを測定し、上記レーザ照射用ランス先端と溶融物試料面間の距離を一定に保つことを特徴とするレーザ発光分光分析方法。