Pat

J-GLOBAL ID：200903060130970557

プロセスガスクロマトグラフ

Inventor： 村上 勉
Applicant, Patent owner： 横河電機株式会社
Agent (1)： 小沢 信助
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994062440
Publication number (International publication number)：1995270389
Application date： Mar. 31, 1994
Publication date： Oct. 20, 1995
Summary：

【要約】【目的】 円滑な割込み検出が可能なプロセスガスクロマトグラフを提供する。【構成】 複数個所から採取する試料のうちの一つの試料をサンプリングし分析可能な状態にするための準備時間,前記準備時間を経て分析可能状態となったガスを分析ユニットにより分析するに要する分析時間,これら準備時間と分析時間の合計を分析単位とし,前記分析単位の複数個を所定の順序に従って順次実行する様にプログラミングされた主分析パターン制御手段と,前記主分析パターンの組合せとは異なる組合せや試料からなる1以上の前記分析単位を所定の順序に従って順次実行する様にプログラミングされた複数の副分析パターン制御手段とからなり,前記主分析パターンを実行している途中で前記副分析パターンの一つが割込み指令を受けた際は,前記分析単位が終了した後に前記指令された副分析パターンを実行する。

Claim (excerpt)：

上記課題を解決する為に本発明は,複数個所から試料をサンプリング手段により一定量採取し,その採取された試料を分析ユニットで分析し,得られた結果(クロマトグラム信号)を解析手段により解析して表示或いは記録するプロセスガスクロマトグラフにおいて,前記複数個所から採取する試料のうちの一つの試料をサンプリングし分析可能な状態にするための準備時間,前記準備時間を経て分析可能状態となったガスを分析ユニットにより分析するに要する分析時間,これら準備時間と分析時間の合計を分析単位とし,前記分析単位の複数個を所定の順序に従って順次実行する様にプログラミングされた主分析パターン制御手段と,前記主分析パターンの組合せとは異なる組合せや試料からなる1以上の前記分析単位を所定の順序に従って順次実行する様にプログラミングされた複数の副分析パターン制御手段とからなり,前記主分析パターンを実行している途中で前記副分析パターンの一つが割込み指令を受けた際は,前記分析単位が終了した後に前記指令された副分析パターンを実行する様に制御することを特徴とするプロセスガスクロマトグラフ。