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J-GLOBAL ID：200903060157428355

試験片供給装置

Inventor： 進藤 勲夫 ,  甲斐 奨 ,  武藤 茂雄
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992061843
Publication number (International publication number)：1993264557
Application date： Mar. 18, 1992
Publication date： Oct. 12, 1993
Summary：

【要約】【構成】試験片供給装置は、側壁に細長い試験片嵌入要貫通溝15を有する円筒形の容器11と、上部が半円筒形の凹面をなし、且つ凹面の中央部に、容器11の貫通溝から下降する試験形取出し用孔20を有する容器支持台18と、貫通溝15から降下する試験片を受容して、移送する試験片搬送ステージ31を備えている。搬送ステージによる試験片移送中において、光学的手段により試験片の裏表を判定して、裏である場合にはこれを反転させて表にして送出する、試験片反転機能も有する。【効果】湾曲した試験片を試験片収容容器に投函しておくだけで自動的に一枚ずつ取出すことができる。

Claim (excerpt)：

複数の試験片を収容し得る筒上の容器であって、試験片の入る貫通溝が壁面に形成された試験片収容容器と、上記試験片収容容器自体を往復回転動せしめる駆動装置と、上記試験片収容容器の回転動が停止されたときに上記貫通溝から上記試験片収容容器の外へ出た試験片を、外部取り出し位置まで移動する移送装置と試験片の裏表を検知する手段と、試験片の端部が入る摺り割り溝を回転体の摺り割り部を回転軸に体し偏芯している回転体を備えたことを特徴とする試験片供給装置。

IPC (2)：

G01N 35/04 ,  G01N 21/75

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 特開昭57-146466
  
• 特開昭64-078659
  
• 特公昭51-039959
  
• 特開平3-016221
  
• 特開平2-059168