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J-GLOBAL ID：200903060268146359

放射線検査装置及びそのタイミング補正方法

Inventor： 石津 崇章 ,  雨宮 健介 ,  上野 雄一郎 ,  松本 隆 ,  松本 隆
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (2)： 作田 康夫 ,  井上 学
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004276351
Publication number (International publication number)：2006090827
Application date： Sep. 24, 2004
Publication date： Apr. 06, 2006
Summary：

【課題】同時計数を行う処理回路において、各放射線検出器からのγ線検出信号の時間遅れを一致させるために校正データを取得する際の、高い時間精度の達成および検出器の多チャンネル化に対応するための高速かつ容易な校正データの取得。【解決手段】信号処理装置20Aに模擬信号発生装置から信号を送り込み、同時計数イベントを模擬的に発生させる。発生したイベントを遅延時間制御装置7にて処理し、可変遅延回路4を制御し、同時計数の精度を向上させる。【選択図】図4

Claim (excerpt)：

複数の放射線検出器と、複数の放射線検出器に別々に接続された信号処理装置と、複数の前記信号処理装置に対して模擬信号を出力する模擬信号発生装置と、前記模擬信号に基づいて生成される、複数の前記信号処理装置の出力に基づいてタイミング校正データを生成する校正データ生成装置とを備えたことを特徴とする放射線検査装置。

IPC (1)：

G01T 1/161

FI (1)：

G01T1/161 A

F-Term (9)：

2G088EE02 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ02 ,  2G088KK09 ,  2G088KK15 ,  2G088KK24 ,  2G088KK29 ,  2G088KK33 ,  2G088LL28

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 特公平6-19436号公報
  
• 特許第3343122号公報
  

Cited by examiner (2)

• 特表平7-503077
  
• 特開平2-082439