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J-GLOBAL ID：200903060410315490
光学的測定装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
津川 友士
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992259743
Publication number (International publication number)：1994109636
Application date： Sep. 29, 1992
Publication date： Apr. 22, 1994
Summary：
【要約】【目的】 蛍光強度の経時変化を抑制しつつ、蛍光強度を向上させる。【構成】 測定光を発するレーザ光源1と、光束を屈折型結合プリズム4の入射面4aより前で集光させる集光レンズ系2と、屈折型結合プリズム4を端部に備えたスラブ型光導波路5と、蛍光を検出する光検出器7とを有している。集光された測定光は光導波路5内で広がりながら、全反射を繰り返すので検出面積を増やすことができ、光束が発散されながらスラブ型光導波路5に入射するので標識蛍光体13aが破壊されることによる蛍光強度の経時変化の問題を低減することができる。
Claim (excerpt)：
光導波路(5)の所定位置に設けられたプリズム(4)を通して光導波路(5)内に測定光を導入し、測定光のエバネッセント波成分により光導波路(5)の表面近傍の光学的測定を行ない、光学的測定結果を示す信号光を光導波路(5)およびプリズム(4)を通して出射させて光検出器(7)に導く光学的測定装置であって、測定光を光導波路(5)の第1反射面より前の位置で集光させる光学素子(2)(2a)(2b)を有していることを特徴とする光学的測定装置。
IPC (3)：
G01N 21/64
, G01N 21/27
, G01N 33/543
Cited by examiner (7)
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