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J-GLOBAL ID：200903060420414437

波長計測装置

Inventor：
平山 紀友

About 平山 紀友

, 
佐野 安一

About 佐野 安一


Applicant, Patent owner：
富士電機株式会社

About 富士電機株式会社


Agent (1)： 森田 雄一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999092510
Publication number (International publication number)：2000283844
Application date： Mar. 31, 1999
Publication date： Oct. 13, 2000
Summary：
【要約】【課題】 波長計測装置における波長の測定点数(センサ数)を増加させる。【解決手段】 広帯域光源からの光を光ファイバを介して複数のブラッグ回折格子に導き、各ブラッグ回折格子からの反射光をアレイ導波路回折格子に入射させ、このアレイ導波路回折格子の複数の出力チャンネルにそれぞれ設けられた一対の受光素子による光電流の比の対数に基づいて前記反射光の波長を測定する波長計測装置に関する。前記ブラッグ回折格子FBG1〜FBG4から測定部1Bのアレイ導波路回折格子(AWG)25に至るまでの間に、フィルタ手段として第1、第2の光フィルタ22,23を挿入し、各フィルタ22,23の透過光を交互にアレイ導波路回折格子25に入射させる。
Claim (excerpt)：
広帯域光源からの光を光ファイバを介して複数のブラッグ回折格子に導き、各ブラッグ回折格子からの反射光をアレイ導波路回折格子に入射させ、このアレイ導波路回折格子の複数の出力チャンネルにそれぞれ設けられた一対の受光素子による光電流の比の対数に基づいて前記反射光の波長を測定する波長計測装置において、前記ブラッグ回折格子から前記アレイ導波路回折格子に至るまでの間に、フィルタ手段として第1、第2の光フィルタを挿入し、第1の光フィルタの透過光と第2の光フィルタの透過光とを交互に前記アレイ導波路回折格子に入射させることを特徴する波長計測装置。
IPC (5)：
G01J 3/18 ,  G01B 11/16 ,  G01J 1/02 ,  G01K 11/12 ,  G01L 1/24
FI (5)：
G01J 3/18 ,  G01B 11/16 Z ,  G01J 1/02 M ,  G01K 11/12 F ,  G01L 1/24 A
F-Term (46)：
2F056VF02 ,  2F056VF10 ,  2F056VF12 ,  2F056VF16 ,  2F065AA65 ,  2F065CC23 ,  2F065DD00 ,  2F065FF41 ,  2F065FF48 ,  2F065GG01 ,  2F065GG21 ,  2F065KK01 ,  2F065LL02 ,  2F065LL21 ,  2F065LL42 ,  2F065LL64 ,  2F065LL67 ,  2F065MM16 ,  2F065MM26 ,  2F065NN06 ,  2F065NN16 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ43 ,  2F065SS11 ,  2F065UU05 ,  2F065UU08 ,  2G020AA03 ,  2G020BA20 ,  2G020CA17 ,  2G020CB23 ,  2G020CB42 ,  2G020CC02 ,  2G020CC26 ,  2G020CD12 ,  2G020CD24 ,  2G065AA04 ,  2G065AB02 ,  2G065AB09 ,  2G065AB22 ,  2G065BA09 ,  2G065BB02 ,  2G065BB15 ,  2G065BB28 ,  2G065CA21 ,  2G065DA05
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2) Cited by examiner (2)

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