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J-GLOBAL ID:200903060443373720

測距装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 鹿嶋 英實
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997140232
Publication number (International publication number):1998332322
Application date: May. 29, 1997
Publication date: Dec. 18, 1998
Summary:
【要約】【課題】 測距装置における検出エリアの位置調整作業が、特別な作業環境を必要とせずに、比較的短時間で簡単にできるようにする。【解決手段】 照射した波動の反射波に基づいて、所定の検出エリアにある被検出物の少なくとも位置情報を含む検出データを判定し出力する測距装置において、被検出物の検出データの中から、不要な検出データを排除して、予め設定された基準ターゲットに相当する検出データのみを選択して出力する選択処理手段(制御回路7)を設ける。
Claim (excerpt):
照射した波動の反射波に基づいて、所定の検出エリアにある被検出物の少なくとも位置情報を含む検出データを判定し出力する測距装置において、前記被検出物の検出データの中から、不要な検出データを排除して、予め設定された基準ターゲットに相当する検出データのみを選択して出力する選択処理手段を備えたことを特徴とする測距装置。
IPC (2):
G01B 11/00 ,  G01S 17/10
FI (2):
G01B 11/00 B ,  G01S 17/10
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)

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