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J-GLOBAL ID:200903060462005111
電離真空計の制御装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
鈴木 正次
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992306308
Publication number (International publication number):1994129934
Application date: Oct. 20, 1992
Publication date: May. 13, 1994
Summary:
【要約】【目的】 電離真空計のユーザが、その使用方法、環境等に応じて簡単にエミッション電流値が切換わる圧力値を変更できる電離真空計の制御装置を提供する。【構成】 電離真空計測定球のフィラメント・グリッド間に流れるエミッション電流値を、予め設定した少くとも1つの圧力を境界として、増減する回路を備えており、エミッション電流値を増減すべき境界の圧力値(HP、LP)が変更可能としてあり、変更の為の入力回路を備えている。
Claim (excerpt):
電離真空計測定球のフィラメント・グリッド間に流れるエミッション電流値を、予め設定した少なくとも1つの圧力を境界として、増減する回路を備えた電離真空計の制御装置において、前記エミッション電流値を増減すべき境界の圧力値が変更可能としてあり、変更の為の入力回路を備えていることを特徴とした電離真空計の制御装置。
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