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J-GLOBAL ID：200903060529098144

印刷物の検査方法及びこの装置

Inventor： 中久木 秀樹 ,  高司 誠喜 ,  金田 秀則
Applicant, Patent owner： 凸版印刷株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997071607
Publication number (International publication number)：1998269359
Application date： Mar. 25, 1997
Publication date： Oct. 09, 1998
Summary：

【要約】【課題】印刷物の汚れ、欠け、文字違いなどを検出する検査方法及び検査装置に関するものである。【解決手段】(1)検査見本の画像を基準メモリに格納する工程S1。(2)基準メモリと対応したアドレスを有するマスクメモリにおいて検査領域と非検査領域とを設定する工程S2。(3)被検査印刷物の画像を画像メモリに格納する工程S3。(4)前記被検査画像メモリの記録情報を位置補正する工程S4。(5)基準メモリ信号と比較した結果抽出される欠陥候補画素のうち、マスクメモリに設定された非検査領域に該当する画素は欠陥検出されても無視する工程S5。(6)検査領域内の相違点の画素数が設定した閾値より大きい場合のみ、相違画像を表示して、損紙と判定する工程S6からなる印刷物の検査方法。

Claim (excerpt)：

印刷物の絵柄を画素毎に検出部(画像入力部)より取り込み、この検出された画素ごとの絵柄情報を、予め入力された対応する画素ごとの基準絵柄信号と比較して印刷物の汚れ、欠け、文字違いなどを検出する検査方法において、(1)基準となる検査見本の画像を基準メモリに格納する工程。(2)基準メモリと対応したアドレスを有するマスクメモリにおいて、検査領域と非検査領域とを設定する工程。(3)被検査印刷物の画像を画像メモリに格納する工程。(4)基準メモリと比較する為に、前記被検査画像メモリの記録情報を位置補正する工程(5)基準メモリ信号と比較した結果抽出される欠陥候補画素のうち、前記マスクメモリに設定された非検査領域に該当する画素は欠陥検出されても無視する工程。(6)検査領域内の相違点の画素数が設定した閾値より大きい場合のみ、相違画像を表示して、損紙と判定する工程。を含むことを特徴とする印刷物の検査方法。

IPC (3)：

G06T 7/00 ,  B41J 29/46 ,  G01N 21/89

FI (3)：

G06F 15/62 410 A ,  B41J 29/46 C ,  G01N 21/89 A