Pat
J-GLOBAL ID：200903060628907054

アクティブマトリクス基板、液晶装置及び電子機器並びに該アクティブマトリクス基板の検査方法

Inventor：
村出 正夫

About 村出 正夫


Applicant, Patent owner：
セイコーエプソン株式会社

About セイコーエプソン株式会社


Agent (1)： 鈴木 喜三郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998076337
Publication number (International publication number)：1999271806
Application date： Mar. 24, 1998
Publication date： Oct. 08, 1999
Summary：
【要約】【課題】 基板上に走査線、データ線、TFT等が形成されてなり、液晶装置を構成するためのアクティブマトリクス基板において、検査機能とプリチャージ機能とを基板上の狭い領域で実現する。【解決手段】 アクティブマトリクス基板は、複数のデータ線(35)の一端側に設けられたデータ線駆動回路(101)と、その他端側に設けられており、液晶装置の組み立て工程前などに行われる検査時に、データ線に検査信号を供給すると共に、通常動作時に、データ線にプリチャージ信号を供給する検査兼プリチャージ回路(201)とを備える。
Claim (excerpt)：
一対の基板間に液晶が挟持されてなる液晶装置を構成するためのアクティブマトリクス基板であって、前記一対の基板のうちの一方の基板上に、相交差する複数の走査線及び複数のデータ線と、前記複数の走査線に走査信号を供給する走査線駆動回路と、前記複数のデータ線の一端側に設けられており、前記複数のデータ線に画像信号を供給する画像信号供給手段と、マトリクス状に設けられており、前記複数の走査線及び前記複数のデータ線を介して供給される前記走査信号及び前記画像信号に基づいて夫々能動駆動される複数の画素部と、前記複数のデータ線の他端側に設けられており、検査時に少なくとも前記複数のデータ線に検査信号を夫々供給すると共に通常動作時に所定電圧レベルのプリチャージ信号を前記画像信号に先行して前記複数のデータ線に夫々供給する検査兼プリチャージ回路とを備えたことを特徴とするアクティブマトリクス基板。
IPC (3)：
G02F 1/136 500 ,  G02F 1/1345 ,  G09F 9/00 352
FI (3)：
G02F 1/136 500 ,  G02F 1/1345 ,  G09F 9/00 352
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM