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J-GLOBAL ID：200903060652147230

ALCパネルの劣化度推定方法

Inventor： 二木 昌次
Applicant, Patent owner： 住友金属鉱山シポレックス株式会社
Agent (1)： 押田 良輝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001377386
Publication number (International publication number)：2003177083
Application date： Dec. 11, 2001
Publication date： Jun. 27, 2003
Summary：

【要約】【課題】 建物の現場でALCパネルの劣化程度を簡易迅速にかつ精度よく推定することができる方法を提供する。【解決手段】 ALCパネル自体にビスを打設し、ビス引抜き試験方法により当該ビスの引抜き強度を測定し、該ビス引抜き強度と炭酸化度の関係より当該ALCパネルの劣化度を推定することを特徴とする。

Claim (excerpt)：

ALCパネル自体にビスを打設し、ビス引抜き試験方法により当該ビスの引抜き強度を測定し、該ビス引抜き強度と炭酸化度の関係より当該ALCパネルの劣化度を推定することを特徴とするALCパネルの劣化度推定方法。

IPC (2)：

G01N 3/00 ,  G01N 17/00

FI (2)：

G01N 3/00 M ,  G01N 17/00

F-Term (19)：

2G050AA04 ,  2G050BA02 ,  2G050BA05 ,  2G050BA10 ,  2G050BA12 ,  2G050CA01 ,  2G050DA02 ,  2G050EA01 ,  2G050EB01 ,  2G050EC05 ,  2G061AA01 ,  2G061AB01 ,  2G061BA04 ,  2G061CA05 ,  2G061CA08 ,  2G061CB01 ,  2G061CB03 ,  2G061EA01 ,  2G061EC02