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J-GLOBAL ID：200903060682409582

超音波検査装置

Inventor： 原 和彦 ,  小林 正基 ,  高橋 俊昭 ,  名倉 正人
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 日比谷 征彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992072324
Publication number (International publication number)：1993232092
Application date： Feb. 21, 1992
Publication date： Sep. 07, 1993
Summary：

【要約】【目的】 被検物体内の欠陥を容易かつ正確に検出する。【構成】 被検物体Mにパルスを発信しエコーを受信するトランスデューサ1には、パルスを発生しエコーを増幅するための送受信器2が接続され、その後方にはエコーの中から任意の間のエコーを取り出すためのゲート回路3が接続されている。また、ゲート回路3には正のコンパレータ4、負のコンパレータ5、正のピークホルダ6、負のピークホルダ7が接続され、これらの出力は制御装置9に入力する。正のコンパレータ4と負のコンパレータ5では、予め設定した基準値を初めて越えるエコーの中の早い方のタイミングが遅延回路8に入力し、略1周期分の時間の後にゲート回路3を閉じる。

Claim (excerpt)：

被検物体上を超音波を走査してパルスエコー法により被検物体の欠陥を検査する超音波検査装置において、超音波パルスの発信後又は表面からの反射信号の検出後から一定時間の経過後にゲートを開く手段と、前記ゲートを通過した信号の絶対値が設定した正及び負の基準値を初めて越えるタイミングを検出する手段と、前記タイミングから受信信号の約1周期分後に前記ゲートを閉じる手段と、前記ゲートを通過した信号の正及び負の最大値を検出する手段と、検出された正及び負のそれぞれの最大値から位相反転の有無を検出する手段とを設けたことを特徴とする超音波検査装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭63-152648
  
• 特開昭63-159451