Pat
J-GLOBAL ID:200903060706778193
配線基板
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001292305
Publication number (International publication number):2003100802
Application date: Sep. 25, 2001
Publication date: Apr. 04, 2003
Summary:
【要約】【課題】 半導体素子を配線基板にフリップチップ実装した実装構造において、半導体素子と配線基板との間の熱膨張差により発生する応力により、それらを接合している金属バンプが破断される。【解決手段】 絶縁基体1の内部に配線導体3(3c)を有するとともに絶縁基体1の表面に半導体素子2をフリップチップ実装するための配線導体3cと電気的に接続された電極パッドを有する配線基板において、電極パッドは、配線導体3cから絶縁基体1の表面にかけて形成され、かつ表面に端部を20〜150μmの高さで突出させた貫通導体3bと、貫通導体3bの端部を覆うように形成されたランド導体3aとから成る配線基板である。半導体素子2と配線基板との間の熱膨張差により発生する応力が加わっても、半導体素子2側の電極パッド5と配線基板の電極パッドとの間が破断することがない。
Claim (excerpt):
絶縁基体の内部に配線導体を有するとともに前記絶縁基体の表面に半導体素子をフリップチップ実装するための前記配線導体と電気的に接続された電極パッドを有する配線基板において、前記電極パッドは、前記配線導体から前記絶縁基体の表面にかけて形成され、かつ表面に端部を20〜150μmの高さで突出させた貫通導体と、該貫通導体の前記端部を覆うように形成されたランド導体とから成ることを特徴とする配線基板。
IPC (4):
H01L 21/60 311
, H05K 1/18
, H05K 3/34 501
, H05K 3/46
FI (6):
H01L 21/60 311 Q
, H05K 1/18 L
, H05K 3/34 501 E
, H05K 3/46 H
, H05K 3/46 N
, H05K 3/46 Q
F-Term (37):
5E319AA03
, 5E319AB05
, 5E319AC01
, 5E319AC04
, 5E319AC11
, 5E319AC16
, 5E319CD04
, 5E319GG11
, 5E319GG20
, 5E336AA04
, 5E336AA16
, 5E336BB03
, 5E336BB18
, 5E336BC15
, 5E336CC32
, 5E336CC55
, 5E336EE01
, 5E336GG16
, 5E346AA12
, 5E346AA15
, 5E346AA32
, 5E346AA43
, 5E346AA51
, 5E346BB16
, 5E346CC16
, 5E346EE21
, 5E346EE27
, 5E346EE29
, 5E346FF01
, 5E346FF18
, 5E346FF45
, 5E346GG06
, 5E346GG09
, 5E346HH11
, 5E346HH31
, 5F044KK04
, 5F044QQ00
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