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J-GLOBAL ID：200903060715432461

電磁波解析装置及び電磁波解析プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体

Inventor： 並木 武文
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 服部 毅巖
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998043050
Publication number (International publication number)：1998307160
Application date： Feb. 25, 1998
Publication date： Nov. 17, 1998
Summary：

【要約】【課題】 金属の導体損失を考慮した電磁波の過渡的な挙動の計算を、金属の厚さ及び角周波数に依存せずに高速に行えるようにする。【解決手段】 初期設定手段1は、金属の厚さd、メッシュ数、メッシュサイズ、各セルの誘電率ε、透磁率μ、電気伝導率σ等の初期設定を行う。解析手段2は、初期設定に基づいて、表皮厚δが無限大(角周波数ωが0)に近づくとき、金属領域の表面インピーダンスZ(ω)が1/dσとなるような表面インピーダンス境界条件を満たした方程式を有限差分時間領域法で解析することにより、電磁波の過渡的な挙動を計算する。そして、解析手段2は、電界の挙動を示す式を解析結果3として出力する。これにより、金属の導体損失を考慮した電磁波の過渡的な挙動の計算を、金属の厚さに依存せずに高速に行うことができる。

Claim (excerpt)：

金属内部の電磁界を計算せずに電磁波の過渡的な挙動を数値解析する電磁波解析装置において、金属の厚さをd、電気伝導率をσとした場合に、角周波数が0に近づくとき金属領域の表面インピーダンスが1/dσに近づくような表面インピーダンス境界条件に基づいて、有限差分時間領域法により電磁波の過渡的な挙動を計算する解析手段、を有することを特徴とする電磁波解析装置。