Pat

J-GLOBAL ID：200903060758505241

放射線診断装置

Inventor： 本田 道隆 ,  山田 尚樹 ,  金箱 豊充 ,  中山 博士
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991334786
Publication number (International publication number)：1993161631
Application date： Dec. 18, 1991
Publication date： Jun. 29, 1993
Summary：

【要約】【目的】本発明の目的は例え放射線吸収量が同じであっても被検体の組成物質が異なる部分は同一ではないことを認識することができる画像を得ることができる放射線診断装置を提供することである。【構成】本発明装置は第1および第2のエネルギの放射線が被検体Pを透過する際の第1、第2の放射線減衰率を得る手段と、その第1の放射線減衰率と基準物質の第1エネルギにおける所定の放射線吸収係数μL とから被検体Pが基準物質のみからなると仮定したときの厚さtL を求める厚み分布計算部12と、その厚さtL と第2の放射線減衰率とから被検体Pの第2エネルギーにおける放射線吸収係数μHCを求める吸収係数μHC分布計算部13と、吸収係数μHC分布計算部13により求められた放射線吸収係数μHCと基準物質の第2エネルギにおける所定の放射線吸収係数μH との差分μS を求める差分μS 分布演算部14とを具備する。

Claim (excerpt)：

第1、第2のエネルギーの放射線を被検体に照射し、その被検体を透過する際の第1、第2のエネルギー放射線毎の第1、第2の放射線減衰率を検出する手段と、前記第1エネルギーの放射線に対する前記第1の放射線減衰率と基準物質の前記第1エネルギーにおける所定の放射線吸収係数とから前記被検体が前記基準物質からなると仮定したときの厚さを求める第1演算手段と、前記第1演算手段により求められた前記厚さと前記第2の放射線減衰率とから前記被検体の前記第2エネルギーにおける放射線吸収係数を求める第2演算手段と、前記第2演算手段により求められた前記放射線吸収係数と前記基準物質の前記第2エネルギーにおける所定の放射線吸収係数との差を求める第3演算手段とを具備することを特徴とする放射線診断装置。