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J-GLOBAL ID：200903060785807489

X線回折測定におけるデータファイル管理方法

Inventor： 小畑 康 ,  井上 修一
Applicant, Patent owner： 理学電機株式会社
Agent (1)： 山本 寿武
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997235967
Publication number (International publication number)：1999085772
Application date： Sep. 01, 1997
Publication date： Mar. 30, 1999
Summary：

【要約】【課題】 X線回折測定のデータファイルに対し、自動的にファイル名を付与できるようにして、ユーザの労力軽減を図る。【解決手段】 X線回折測定により得られた測定データのファイルを作成するとともに、X線回折測定に際してユーザが入力した測定条件と、コンピュータにより自動的に記録可能な記録情報とを組み合わせて、コンピュータがファイルに固有のファイル名を自動的に付与する。例えば、測定条件としてサンプル名やサンプル番号を利用し、また記録情報としてファイル名作成時刻を利用することにより、重複することが少なく検索の容易なファイル名を自動的に付与することができる。

Claim (excerpt)：

ユーザにより入力された測定条件にしたがってコンピュータ制御により実行されるX線回折測定において、該X線回折測定により得られた測定データのファイルを作成するとともに、前記X線回折測定に際してユーザが入力した所定の測定条件と、コンピュータにより自動的に記録可能な所定の記録情報とを組み合わせて、コンピュータが前記ファイルに固有のファイル名を自動的に付与し、該ファイルをコンピュータの記憶部に保存することを特徴とするX線回折測定におけるデータファイル管理方法。

IPC (3)：

G06F 17/30 ,  G06F 19/00 ,  G01N 23/20

FI (3)：

G06F 15/401 310 C ,  G01N 23/20 ,  G06F 15/42 X

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• データ処理装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-011891   Applicant：株式会社島津製作所
• クロマトグラフ用データ処理装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-057981   Applicant：株式会社島津製作所
• 画像取り扱い装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-076805   Applicant：オリンパス光学工業株式会社