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J-GLOBAL ID：200903060810450272

負イオンシステム

Inventor： 山下 浩司 ,  森 美喜男 ,  亀山 晋 ,  谷村 泰宏
Applicant, Patent owner： 三菱電機株式会社
Agent (1)： 宮田 金雄 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000092843
Publication number (International publication number)：2001276205
Application date： Mar. 30, 2000
Publication date： Oct. 09, 2001
Summary：

【要約】【課題】 冷蔵庫内での負イオン濃度の立ちあがり特性を向上させ、冷蔵庫内の負イオン濃度が所定濃度になるまでの時間を短縮し、微生物の繁殖防止を効果的に行うことができる負イオンシステムを提供する。【解決手段】 負イオン発生手段によって発生させた負イオンを所定空間内に供給し、内部に配置された対象物の近傍での負イオン濃度が所定濃度以上となるようにした負イオンシステムにおいて、所定空間内の表面を帯電し難い材料、導電性を有す材料、もしくは親水性を有す材料のいずれかで構成するようにする。

Claim (excerpt)：

空気中に負イオンを発生させる負イオン発生手段と、食品などの対象物を内蔵し、該負イオン発生器から発生した負イオンを含む空気が導入される所定空間とを備え、該負イオンを含む空気が接する該所定空間内の表面を帯電し難い材料、導電性を有す材料、もしくは親水性を有す材料のいずれかで構成したことを特徴とする負イオンシステム。

IPC (3)：

A61L 9/22 ,  A23L 3/32 ,  F25D 23/00 302

FI (3)：

A61L 9/22 ,  A23L 3/32 ,  F25D 23/00 302 M

F-Term (8)：

4B021LT01 ,  4B021LT08 ,  4C080AA09 ,  4C080BB05 ,  4C080HH02 ,  4C080KK02 ,  4C080MM40 ,  4C080QQ17