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J-GLOBAL ID:200903060820056351

視点・物点位置決定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 若林 忠
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992238586
Publication number (International publication number):1994088706
Application date: Sep. 07, 1992
Publication date: Mar. 29, 1994
Summary:
【要約】【目的】相対位置関係が未知である複数の視点における複数の物点のステレオ画像計測の結果に基づいて、視点間の相対位置関係と各物点の実空間座標を簡単かつ精度良く求められるようにする。【構成】各視点座標系で記述された複数の物点の実空間座標を得る(ステップ101)。画像面座標での計測誤差と実空間座標での計測誤差との関係に基づき、視点間の相対位置関係を記述する座標変換パラメータと各物点の真の実空間座標とを変数として含む形で、各視点座標系における各物点の位置計測誤差の確率密度分布を求める(ステップ103)。各視点と各物点とのそれぞれについて前記確率密度分布の総積を算出して合成確率密度分布を求め(ステップ104)、合成確率密度分布の最大値を与える座標変換パラメータと各物点の実空間座標とを同時に求める(ステップ105)。
Claim (excerpt):
相対位置関係が未知である複数の視点において複数の物点のステレオ画像計測を行ない、前記ステレオ画像計測の結果から前記複数の視点の相対位置関係および前記各物点の実空間座標を決定する視点・物点位置決定方法において、前記複数の視点のそれぞれにおいて獲得されたステレオ画像を演算処理し、各視点座標系で記述された前記複数の物点の実空間座標を得る第1の工程と、前記ステレオ画像の画像面座標での計測誤差と実空間座標での計測誤差との関係に基づき、前記視点間の相対位置関係を記述する座標変換パラメータと前記各物点の真の実空間座標とを変数として含む形で、前記各視点座標系における前記各物点の位置計測誤差の確率密度分布を求める第2の工程と、前記各視点と前記各物点とのそれぞれについて前記確率密度分布の総積を算出して合成確率密度分布を求める第3の工程と、前記合成確率密度分布の最大値を与える全ての前記座標変換パラメータと前記各物点の実空間座標とを同時に求める第4の工程とを有することを特徴とする視点・物点位置決定方法。
IPC (3):
G01B 11/00 ,  G01C 3/06 ,  G01C 15/00

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