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J-GLOBAL ID：200903060859392251

非接触式物性測定方法およびその装置

Inventor： 小林 潤也
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 杉谷 勉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000271295
Publication number (International publication number)：2002082048
Application date： Sep. 07, 2000
Publication date： Mar. 22, 2002
Summary：

【要約】【課題】測定対象物の物性を非接触で任意の位置において測定できるようにする非接触式物性測定方法およびその装置を提供する。【解決手段】この発明の測定装置は、測定対象物Mに光を照射する一方、測定対象物Mからの透過光を光検出部2で検出して光検出信号を得た後、物性求出部5の信号処理部5bにより、相関関係メモリ部5aに予め記憶された光検出信号と測定対象物Mの物性の間の相関関係が参照されて光検出信号から測定結果が求出される構成となっている。つまり、測定対象物Mに対しては、光の照射と透過光の検出という行為だけで測定が行われるので、測定対象物Mとは完全に非接触の状態で任意の位置において物性を測定することができる。

Claim (excerpt)：

測定対象物の物性を光を利用して非接触で測定する方法であって、(a)測定対象物からの光を検出する光検出過程と、(b)標準の測定対象物について予め求められた光検出信号と測定対象物の物性の相関関係を参照して、前記光検出過程で得られる光検出信号から測定対象物の物性を求出する物性求出過程とを備えていることを特徴とする非接触式物性測定方法。

IPC (9)：

G01N 21/27 ,  A61B 5/00 101 ,  A61B 10/00 ,  G01J 3/36 ,  G01J 3/42 ,  G01N 21/00 ,  G01N 21/35 ,  G01V 8/12 ,  G01J 5/48

FI (11)：

G01N 21/27 A ,  G01N 21/27 F ,  A61B 5/00 101 K ,  A61B 10/00 E ,  G01J 3/36 ,  G01J 3/42 U ,  G01N 21/00 B ,  G01N 21/35 A ,  G01N 21/35 Z ,  G01J 5/48 A ,  G01V 9/04 J

F-Term (40)：

2G020AA03 ,  2G020AA04 ,  2G020BA03 ,  2G020BA18 ,  2G020BA20 ,  2G020CA02 ,  2G020CB42 ,  2G020CB43 ,  2G020CC23 ,  2G020CC26 ,  2G020CD04 ,  2G020CD24 ,  2G020CD37 ,  2G059AA03 ,  2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB11 ,  2G059BB12 ,  2G059BB15 ,  2G059BB16 ,  2G059CC09 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059FF01 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM05 ,  2G059MM10 ,  2G059MM12 ,  2G066AC13 ,  2G066AC14 ,  2G066BA23 ,  2G066BC23 ,  2G066CA02 ,  2G066CA08