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J-GLOBAL ID:200903060928139555

高分子化合物、レジスト材料、及びパターン形成方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小島 隆司 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001150535
Publication number (International publication number):2002338633
Application date: May. 21, 2001
Publication date: Nov. 27, 2002
Summary:
【要約】 (修正有)【解決手段】 下記一般式(1)及び(2)で示される繰り返し単位と、酸性条件下で分解してカルボン酸を発生する単位を1種又は複数種含有することを特徴とする重量平均分子量1,000〜500,000の高分子化合物。(式中、Wは炭素数2〜15の2価の基を示し、結合する炭素原子とともに5員環又は6員環の環状エーテル、環状ケトン、ラクトン、環状カーボネート、環状酸無水物又は環状イミドのいずれかを形成する。Yは-O-又は-(NR1)-を示し、R1は水素原子又は炭素数1〜15の直鎖状、分岐状又は環状のアルキル基を示す。kは0又は1である。)【効果】 高エネルギー線に感応し、感度、解像性、エッチング耐性に優れているため、電子線や遠紫外線による微細加工に有用である。
Claim (excerpt):
下記一般式(1)及び(2)で示される繰り返し単位と、酸性条件下で分解してカルボン酸を発生する単位を1種又は複数種含有することを特徴とする重量平均分子量1,000〜500,000の高分子化合物。【化1】(式中、Wは炭素数2〜15の2価の基を示し、結合する炭素原子とともに5員環又は6員環の環状エーテル、環状ケトン、ラクトン、環状カーボネート、環状酸無水物又は環状イミドのいずれかを形成する。Yは-O-又は-(NR1)-を示し、R1は水素原子又は炭素数1〜15の直鎖状、分岐状又は環状のアルキル基を示す。kは0又は1である。)
IPC (7):
C08F222/06 ,  C08F220/10 ,  C08F222/10 ,  C08F222/40 ,  C08F232/08 ,  G03F 7/039 601 ,  H01L 21/027
FI (7):
C08F222/06 ,  C08F220/10 ,  C08F222/10 ,  C08F222/40 ,  C08F232/08 ,  G03F 7/039 601 ,  H01L 21/30 502 R
F-Term (65):
2H025AA02 ,  2H025AA09 ,  2H025AA13 ,  2H025AA14 ,  2H025AB16 ,  2H025AC04 ,  2H025AC08 ,  2H025AD03 ,  2H025BE00 ,  2H025BE10 ,  2H025BG00 ,  2H025CB08 ,  2H025CB10 ,  2H025CB41 ,  2H025CB43 ,  2H025CB55 ,  2H025CB56 ,  2H025FA17 ,  4J100AK32Q ,  4J100AL08P ,  4J100AL39P ,  4J100AL46P ,  4J100AL56P ,  4J100AM43Q ,  4J100AM45Q ,  4J100AM47Q ,  4J100AR09R ,  4J100AR11R ,  4J100BA02P ,  4J100BA03P ,  4J100BA04P ,  4J100BA05P ,  4J100BA06P ,  4J100BA11P ,  4J100BA11R ,  4J100BA15P ,  4J100BA20P ,  4J100BA29P ,  4J100BA30P ,  4J100BA40P ,  4J100BA52P ,  4J100BA53P ,  4J100BA55P ,  4J100BA72P ,  4J100BB01P ,  4J100BB03P ,  4J100BB07P ,  4J100BC03Q ,  4J100BC04P ,  4J100BC04Q ,  4J100BC04R ,  4J100BC08P ,  4J100BC09P ,  4J100BC09Q ,  4J100BC22P ,  4J100BC43P ,  4J100BC48P ,  4J100BC49P ,  4J100BC53R ,  4J100BC58P ,  4J100BC58R ,  4J100BC65R ,  4J100CA05 ,  4J100DA01 ,  4J100JA38
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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