電子ディスプレイ装置の画素欠陥検査方法、および、電子ディスプレイ装置の製造方法

Inventor： , , , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：作田康夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000072450
Publication number (International publication number)：2000338000
Application date： Mar. 10, 2000
Publication date： Dec. 08, 2000
Summary：

【要約】【課題】電子ディスプレイを撮像検査にあたり、発生するモアレを低減して、画素欠陥の発見を容易にして検査精度を向上させ、かつ、その画素欠陥を定量的に評価する。【解決手段】電子ディスプレイと、撮像素子との相対位置を画素ピッチの1/nづつ微小量変化させ、n枚の画像を画素毎に並べて、撮像時に生じる撮像モアレを低減させる様に、画像データの値の移動平均をとることにより合成し、その合成画像により、その電子ディスプレイの画素欠陥を検出する。

Claim (excerpt)：

電子ディスプレイ装置の画素欠陥検査方法であって、以下の工程を含むことを特徴とする、電子ディスプレイ装置の表示画面と撮像手段の撮像素子との相対位置を微小量変化させながら前記撮像手段で前記電子ディスプレイ装置の表示画面を撮像して該表示画面の複数の画像データを得る工程、該複数の画像データを合成して該複数の画像データのそれぞれに含まれる撮像モアレを低減させた合成画像データを作成する工程、及び、該合成画像データを用いて前記電子ディスプレイ装置の表示面の画素欠陥を検出する工程。

IPC (6)：

G01M 11/00 , G01N 21/95 , G06T 1/00 300 , H01J 9/42 , H01J 11/02 , H04N 17/04

FI (6)：

G01M 11/00 T , G01N 21/95 Z , G06T 1/00 300 , H01J 9/42 A , H01J 11/02 Z , H04N 17/04 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

フラットパネルディスプレイの表示欠陥抽出方法及びそのための装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-320297 Applicant：カシオ計算機株式会社, 沖電気工業株式会社
周期性パターンのムラ定量化方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-062953 Applicant：大日本印刷株式会社
表示素子検査方式
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-248470 Applicant：ミナトエレクトロニクス株式会社

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