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J-GLOBAL ID：200903061007374431

質量分析方法およびそのための装置

Inventor： 平林 集 ,  坂入 実 ,  高田 安章
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 磯村 雅俊
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993305323
Publication number (International publication number)：1995161336
Application date： Dec. 06, 1993
Publication date： Jun. 23, 1995
Summary：

【要約】【目的】 極微量にしか存在しない試料の分析をも実現可能とする、高感度の質量分析方法およびそのための装置を提供すること。【構成】 断続的にイオンが生成されるイオン化部と、生成されたイオンを蓄積または質量分離するイオントラップ部と、イオンを検出する検出部を有する質量分析装置において、前記イオン化部でイオンが生成される間の時間あるいはイオン生成の回数を計測して、必要な量のイオンをイオントラップ部に蓄積し、蓄積されたイオンを一度に質量分離するようにした質量分析方法および装置。

Claim (excerpt)：

断続的にイオンが生成されるイオン化部と、生成されたイオンを蓄積またはイオンの質量を分離するイオントラップ部と、イオンを検出する検出部を有する質量分析装置において、前記イオン化部での複数回のイオン化により生成されるイオンを前記イオントラップ部で蓄積した後、蓄積されたイオンを前記検出部に導入し質量分離することを特徴とする質量分析方法。

IPC (2)：

H01J 49/26 ,  G01N 27/62

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平3-087650
  
• 特公昭48-006516
  
• 特開昭62-276739